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Product Demonstration
符合標準：
AEC-Q100, MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548.GJB597等試驗標準。
適用范圍：
適用于各種封裝形式的大、中、小規模數字、模擬、數模混合集成電路,包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態老煉篩選。
技術特點：
—板—區,可滿足多種同試驗參數的器件同時老化。
強大的圖形發生系統,64路數字和4路模擬可編程信號。
可回檢輸入或輸出波形的頻率或幅度。
