Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q100，MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等試驗標準。
適用范圍:
適用于各種封裝數(shù)字、模擬、數(shù)模混合電路進行高溫動態(tài)老化試驗。
技術特點:
一板一區(qū)，可滿足多種不同試驗參數(shù)的器件同時老化。
完善的、種類齊全的老化器件數(shù)據(jù)庫可供用戶調用。
64路回檢信號，可設置回檢通道信號出錯依據(jù)，并判斷該通道信號是否正常。
