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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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微波器件高溫反偏老化測試系統

符合標準:

AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的射頻場效應管、射頻功率器件進行高溫反向試驗。

技術特點:

每顆器件的Vgs獨立控制。

實時監測每個試驗器件的Id、Ig。

控制上、下電時序。

全過程試驗數據保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術性能

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