Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗標準。
適用范圍:
適用于各種封裝形式的微波功率器件在高溫下的正向壽命試驗。
技術特點:
針對大功率微波器件每顆器件獨立加熱板溫控。
每顆器件獨立的Vd、Vg控制，獨立的Id控制。
兼容穩態壽命、間歇壽命試驗 。
